热膨胀反向承压气氛烧结制备高致密度Ti3SiC2陶瓷
刘博,周岩,时卓,杨殿来,李阳
(1.辽宁省轻工科学研究院有限公司,辽宁 沈阳110036;2.辽宁法库陶瓷工程技术研究中心,辽宁 沈阳法库110400)
摘 要:本文介绍一种新型的Ti3SiC2陶瓷的制备方法。其通过利用烧结过程中模具及承压粉自身的膨胀产生应力,反向作用于陶瓷坯体,使高温陶瓷坯体烧结致密化的一种方法,具有工艺可控,无需复杂设备,无尺寸及形状限制等优点。采用此方法实际合成的Ti3SiC2陶瓷致密度可以达到95%,接近热压合成Ti3SiC2陶瓷的致密度,测试电阻率达到2.8×10-7Ω·m,表面硬度达到329HV,在900℃以下具有良好的抗氧化性,具有广泛的应用价值。
关键词:反向承压,气氛烧结,Ti3SiC2陶瓷
近些年来Ti3SiC2陶瓷由于其具有优良的金属和陶瓷复合性能而受到广泛的关注。其不仅具有普通陶瓷的高强度、高硬度、耐高温,抗氧化,耐腐蚀的优良特性,还具有高导电性、导热性,高断裂韧性和抗热震性等类金属特性。在航空航天、化学防腐,耐火材料、高温电极,金属冶炼等领域有广阔的应用价值[1-3]。
虽然Ti3SiC2早在上世纪60年代就被人们所发现,但由于高温时单一Ti3SiC2相稳定区狭窄,制备高纯度、高致密的块体Ti3SiC2材料非常困难。目前制备Ti3SiC2材料的方法主要以下几种:固相反应法[4-6],热压法(HP)[7-8]、热等静压法(HIP)[9],高温自蔓延法 (SHS)[10],放电等离子体法(SPS)[11-13],化学气相沉积法(CVD)[14]等,根据目前文献报道,传统的固相反应法难以实现Ti3SiC2陶瓷高度致密化, 而热压和热等静压法受制于压头和内部容器限制,对于Ti3SiC2陶瓷的形状尺寸有严格的限制,高温自蔓延法方法简单,但容易在Ti3SiC2陶瓷内部产生杂质相,放电等离子体法虽然反应迅速,但设备价格昂贵,产率低;化学气相沉积的方法只限于制备特定薄膜Ti3SiC2陶瓷。 目前缺乏制备95%以上高致密度、不受形状尺寸限制、适用大规模生产Ti3SiC2的制备技术,因而难以实现工业化的推广和应用。
本文采用一种热膨胀反向承压气氛烧结制备Ti3SiC2陶瓷技术,它克服热压法中压头尺寸的限制,也无需放电等离子体法中复杂的设备,也无需热等静压的复杂苛刻的反应条件。其利用加热烧结过程中模具及承压粉的热膨胀,反向形成对坯体的应力,进而在高温中形成致密烧结,工艺实际生产的Ti3SiC2陶瓷致密度达到95%,较无压烧结Ti3SiC2陶瓷有了大幅度的提升,工艺简单,设备廉价,制备陶瓷不受尺寸及形状限制,可批量化生产,是一种具有潜在应用价值的工艺方法。
1 实验
1.1原料及设备
采用Ti3SiC2粉体(上海越欢新材料科技有限公司,经硝酸二次除杂,过325目筛)作为原粉,去离子水与阿拉伯树胶混合溶剂作为粘结剂,采用刚玉模具作为承压模具,高纯度Si3N4(99.5%,40nm)作为承压粉,高密度BN承压片作为垫片。
采用沈阳威泰科技发展有限公司的气氛烧结炉,采用岛津仪器有限公司XRD-6000及XRF-1800用于物质结构分析及元素定性定量分析,采用岛津仪器SS-550扫描电镜用于表面形貌分析。
1.2实验过程
将采购经二次提纯过筛的Ti3SiC2粉体加入4%阿拉伯树胶粘结剂进行混合造粒,回收80-200目的造粒粉,取一定量的造粒粉采用30MPa干压成型,将成型的生坯放入冷等压机180MPa致密化,放入盛有承压粉刚玉模具中,承压粉要盖过致密化Ti3SiC2坯体,盖上BN承压片手动压实承压粉,外加刚玉陶瓷压头,采用手动压机外加3MPa后,用陶瓷键固定,具体示意图如图1所示。
图1 刚玉模具封装示意图
1. 刚玉模具外壳 2. Ti3SiC2陶瓷坯体 3. 承压粉
4. BN承压片 5. 刚玉陶瓷压头 6. 陶瓷连接键
将封装好的刚玉模具放入气氛烧结炉进行烧结,采用阶段升温方式,升温制度如图2所示,烧结温度1400℃,烧结时间2h,烧结后炉冷24h后卸下模具回收样品。
图2 Ti3SiC2陶瓷阶段升温制度
2 结果与讨论
2.1 表面形貌分析
将制备的样品进行打磨,实际处理后的样品如图3所示,其表面呈现一定的金属光泽,表面粗糙度控制在1μm之内,肉眼观察不到裂纹及痕迹,表面状态良好。
图3 Ti3SiC2陶瓷样件
2.2显微结构分析
将制备的Ti3SiC2陶瓷样品进行切割后进行精抛,截面进行SEM观察,实际观察样品表面状态较好,证明陶瓷致密度较高,表面存在一定的缺陷,但大部分缺陷尺寸小于5μm,具体如图4所示。
图4 Ti3SiC2陶瓷样件截面的SEM图片
a. 500倍下截面照片;b. 3000倍下截面照片
2.3 物相及成分分析
将制备的Ti3SiC2陶瓷进行二次粉碎,用玛瑙研钵磨碎成粉体,过100目筛后进行XRD物相及XRF成分检测。图5为Ti3SiC2陶瓷粉体的XRD测试曲线,从图中可以看到主晶相为典型的Ti3SiC2晶相,基本上观察不到副产物TiC的峰,XRD谱图中能够观察到极小的SiO2峰,可能为玛瑙研磨混入的杂质。
图5 Ti3SiC2陶瓷粉体的XRD测试曲线
表1为实测Ti3SiC2陶瓷粉体XRF测试数据,实际粉体纯度在98.5%左右,实际检测到粉体中含有Fe、Cr、Sn等元素杂质,这些杂质可能来源于材料成型过程引入的。
表1 Ti3SiC2陶瓷粉体XRF测试结果
元素 |
Ti |
Si |
Al |
Fe |
Cr |
Sn |
Ca |
Ni |
含量 (%) |
71.1 |
13.1 |
1.97 |
0.96 |
0.23 |
0.17 |
0.13 |
0.11 |
2.4 材料性能
实际对于制备Ti3SiC2陶瓷进行了致密度,导电性、表面硬度及抗氧化性进行了相关测试。实际材料密度采用简易的排水法测试,实际材料密度达到4.29g/cm3,相比其理论密度4.52g/cm3,其实际致密度达到95%左右,远高于无压烧结Ti3SiC2陶瓷的致密度。制备10mm×22mm×8mm的样块,采用低阻计测试材料电阻率,实际经测试电阻在24×10-6Ω,计算电阻率约为2.8×10-7Ω·m,略高于理论值2.7×10-7Ω·m。将Ti3SiC2陶瓷进行抛光处理,通过维氏硬度计测得表面硬度可以达到329HV。由于在低于1200℃时Ti3SiC2陶瓷表面形成的氧化层为非破坏性,其氧化层厚度随时间呈抛物线特征[15],一般认为在某一温度保温10h后Ti3SiC2陶瓷表面的氧化层厚度可以达到该温度下理论生成氧化层极限值的90%以上,通过比较抛光的Ti3SiC2陶瓷在800℃~1200℃不同温度下保温10h的氧化层厚度来表征其抗氧化的特性,图6为Ti3SiC2抛光陶瓷片在800℃~1200℃保温10h的氧化层SEM照片,通过在800℃Ti3SiC2陶瓷抗氧化性较强,在保温10h后在扫描电镜下基本上观察不到氧化层,900℃时能够观察到氧化层,但其氧化层厚度较薄仅有1-2μm,当温度上升到1000℃氧化层明显增厚其厚度达到20μm左右,温度上升到1100℃氧化层厚度已经增加到60-70μm,温度上升到1200℃氧化层厚度已经接近200μm,并有进一步氧化的趋势,可以认为其已经基本丧失抗氧化的能力。图7为Ti3SiC2陶瓷氧化层厚度描点拟合曲线厚度的描点拟合曲线。从扫描电镜及其数据拟合曲线分析,反向模压法气氛烧结制备的Ti3SiC2陶瓷在900℃开始出现氧化,超过1000℃才会出现明显氧化的现象,可在因此该技术制备Ti3SiC2陶瓷的900℃以下的氧化性气氛下长期使用,具有潜在的应用价值。
图6 Ti3SiC2陶瓷在800℃~1200℃保温10h的氧化层图片
图5 Ti3SiC2陶瓷氧化层厚度描点拟合曲线
3 结论:
1) 本文介绍一种热膨胀反向承压气氛烧结Ti3SiC2陶瓷的制备技术,相比传统工艺其具有方法简单,工艺可控,无需复杂设备,无尺寸及形状限制等优点
2) 采用热膨胀反向承压气氛烧结制备的Ti3SiC2陶瓷,具有良好的可加工型,致密度可以达到95%,接近热压合成Ti3SiC2陶瓷致密度,电阻率达到2.8×10-7Ω·m,表面硬度可以达到329HV,在900℃以下具有良好的抗氧化性,具有潜在的应用价值。
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